安納力斯（蘇州）智能技術有限公司
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現代飛行時間二次離子質譜儀（TOF-SIMS）源于上個世紀七十年代
現代飛行時間二次離子質譜儀（TOF-SIMS）源于上個世紀七十年代。它的特點之一是高靈敏度。對幾乎所有的元素其可測量濃度都可以達到ppm（百萬分之一）數量級，有些可以達到ppb（十億分之一）量級。特點之二是高縱向分辨率，一代TOF-SIMS其分辨率可以達到二至三個原子層。同時隨著技術的改善，分析區(qū)域越來越小。上述特點使TOF-SIMS在材料的成份、摻雜和雜質沾污等方面的分析中擁有不可替代的地位（特別是在微量摻雜和缺陷分析領域幾乎不可替代），TOF-SIMS還可以提供膜層結構深度信息和三維重構（3D）信息。
近年來，TOF-SIMS在生物科技領域應用也日益受到重視。TOF-SIMS的高分辨率成像效果，使得納米尺度的單細胞成像成為可能，國內學者已經在藥物細胞內代謝分析、細胞分型等領域取得成果。
三重聚焦飛行時間質量分析器：用于接收和傳輸二次離子；其包括三套90º 扇形靜電分析器（ESA)；擁有共點觀察，寬角度能量接收和高景深，提高了質量分辨率，對粗糙、表面不平整（有Patterns) 表面有優(yōu)異靈敏的化學成像和成分分析能力；
液態(tài)金屬離子槍LMIG可同時進行高質量采譜和成像分析：采用HR2模式 （即高質量分辨模式下保持高空間分辨模式）的化學態(tài)/分子成像能力，使之可同時在高空間分辨和高質量分辨下進行分析，其使用高分析束流（ i.e. ≥ 1 nA）， 因此分析時間依然可以控制在短時間內， e.g. ≤ 10 分鐘。
脈沖荷電中和系統(tǒng)和電子控制系統(tǒng)：在分析絕緣材料時可對荷電效應進行自動中和；采用低能量脈沖、聚焦電子槍和超低能量的離子束流進行荷電中和使系統(tǒng)適于高分子和玻璃等絕緣材料分析；
全自動化分析能力：使用高精度5-軸樣品臺可在快速進樣腔室和分析腔室里運行，在進樣腔室里可直接把樣品托安裝在樣品臺上；從進樣腔室到分析室全自動控制，無需手動傳輸；
冷熱樣品臺：冷熱樣品臺在傳輸過程中其溫度可持續(xù)控制；
MS/MS串聯質譜：可同時進行傳統(tǒng)TOF-SIMS成像和采譜分析（MS1) 以及對特定離子進行離子成像和采譜分析（MS2)，從而對所分析區(qū)域提供最完整全面的分析信息；對每一個特定離子來說，其離子裂解規(guī)律，或離子譜圖都有特征性，可清楚表征高質量數離子的分子結構，特別適用于對有機高分子材料的成分表征（更準確地得到有機成分和分子結構信息）；
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